針對Micro-LED巨量轉(zhuǎn)移后出現(xiàn)的芯片缺失、位置偏移或缺陷晶粒,進(jìn)行精準(zhǔn)去除與重新填補(bǔ)的修復(fù),蕓卓新材開發(fā)出印章修復(fù)材料,可滿足Micro-LED新型顯示制造的高良率修復(fù)需求。